研究設備 Equipment

熱場發射掃描式電子顯微鏡
Thermal Field-Emission Scanning Electron Microscopy

利用高能量電子束撞擊樣品並接收其產生訊號，以進行高解析度顯微觀察及快速元素組成分析，可廣泛應用於地質、生物、醫學、動物、材料、物理、化學、機械、冶金、電機、半導體等領域。相關詳細說明及預約方式請至「掃描式電子顯微鏡實驗室」官網查詢。

廠牌/型號：JEOL JSM-7000F
電子槍 Electron gun ：Schottky 熱場發射 thermal emission
加速電壓 Accelerating Voltage：0.5 – 30 kV
探測電流 Probe Current：10^-12~2×10^-7 A
真空模式 Vacuum mode：高真空模式 High vacuum (< 2.8×10^-4 Pa)
影像解析 Image resolution：1.2 nm(~650,000 x)@ 30 kV；3.0 nm@1kV
載台規格 Stage optics：X= 70 mm / Y= 50 mm
傾斜角度 Tilting ：-5°~70°
旋轉角度 Rotation：連續360°

熱導率分析儀 Thermal Conductivity Analyzer (Hot Disk)

熱傳導係數分析儀乃是採用瞬變平面熱源法(Transient Plane Source Method，TPS)，將平面探針置於兩樣品之間，當電流通過探針時產生一定的熱源使得溫度上升，所產生的熱量則同時向兩側樣品擴散。熱擴散速度仰賴材料的熱傳導特性，因此經由儀器記錄溫度與探頭的反應時間差，可計算出材料的熱傳導係數(Thermal Conductivity)、熱擴散係數(Thermal Diffusivity)與熱容(Heat Capacity)特性。
**不適用於分析薄膜材料**

廠牌/型號：TechMax TPS-500
精確度：5%
熱傳導範圍：0.03-100 W/m/K
熱擴散範圍：0.02-40 mm²/S
比熱範圍：最大可至4.5 MJ/m3K
測量時間：2.5-2560 sec.
測量溫度範圍：-100~200℃
樣品最小規格：3 mm X 13 mm

濺鍍機 Sputter

本儀器可提供蒸鍍(鉑，白金)與濺鍍(碳)兩種功能，詳細規格如下：

鉑/白金 Platinum (≒0.2 atm)
碳 Carbon (0.04~0.08 atm)

岩石三軸設備（Triaxial Rock Testing System）

本設備為自動伺服（servo-controlled）裝置，藉由單壓、三軸等靜態試驗（static test），可模擬岩石在上部地殼的受壓環境，並取得岩石強度（strength）與彈性模數（elastic moduli）等力學參數。
廠牌/型號：GCTS RTX-1000
鉛直荷重：1000 kN
勁度：750 kN/mm
樣品直徑：1英吋或2英吋
三軸室最大圍壓：70 MPa
鉛直加載速率：0.02-350 mm/min